Uhin-luzera sorta | : | 190-1100 nm |
Banda-zabalera espektrala | : | 2nm (5nm, 4nm, 1nm, 0,5nm aukerakoa) |
Uhin-luzeraren zehaztasuna | : | ± 0,3 nm |
Uhin-luzera Erreproduzigarritasuna | : | ≤0,15 nm |
Sistema Fotometrikoa | : | Izpi bikoitza, eskaneatu automatikoa, detektagailu bikoitza |
Zehaztasun Fotometrikoa | : | ±0,3τ (0~100τ) ± 0,002A (0~0,5A) ±0,004A (0,5~1A) |
Erreproduzigarritasun fotometrikoa | : | ≤0,15% τ |
Lan egiteko modua | : | T, A, C, E |
Sorta fotometrikoa | : | -0,3-3,5A |
Argi galdua | : | ≤0,05% τ (Nal, 220 nm, NaNO2 360 nm) |
Oinarrizko lautasuna | : | ±0,002A |
Egonkortasuna | : | ≤0.001A/h (500nm-ra, berotu ondoren) |
Zarata | : | ±0.001A (500nm-tan, berotu ondoren) |
Bistaratzea | : | 6 hazbeteko altuera duen LCD urdin argia |
Detektagailua | : | Siliziozko argazki-diodoa |
Boterea | : | AC 220V/50Hz, 110V/60Hz 180W |
Neurriak | : | 630×470×210mm |
Pisua | : | 26kg |
Uhin-luzera sorta | : | 190-1100 nm |
Banda-zabalera espektrala | : | 2nm (5nm, 4nm, 1nm, 0,5nm aukerakoa) |
Uhin-luzeraren zehaztasuna | : | ± 0,3 nm |
Uhin-luzera Erreproduzigarritasuna | : | 0,15 nm |
Sistema Fotometrikoa | : | Split-beam ratioaren monitorizazioa, eskaneatu automatikoa, detektagailu bikoitzak |
Zehaztasun Fotometrikoa | : | ±0,3τ (0~100τ) ± 0,002A (0~0,5A) ±0,004A (0,5~1A) |
Erreproduzigarritasun fotometrikoa | : | % 0,2 τ |
Lan egiteko modua | : | T, A, C, E |
Sorta fotometrikoa | : | -0,3-3A |
Argi galdua | : | ≤0,05% τ (Nal, 220 nm, NaNO2 360 nm) |
Oinarrizko lautasuna | : | ±0,002A |
Egonkortasuna | : | ≤0.001A/30min (500nm-tan, berotu ondoren) |
Zarata | : | ±0.001A (500nm-tan, berotu ondoren) |
Bistaratzea | : | 6 hazbeteko altuera duen LCD urdin argia |
Detektagailua | : | Siliziozko argazki-diodoa |
Boterea | : | AC 220V/50Hz, 110V/60Hz 180W |
Neurriak | : | 630×470×210mm |
Pisua | : | 26kg |
Uhin-luzera sorta | : | 190-1100 nm |
Banda-zabalera espektrala | : | 2 nm (5 nm, 1 nm, aukerakoa) |
Uhin-luzeraren zehaztasuna | : | ± 0,3 nm |
Uhin-luzera Erreproduzigarritasuna | : | 0,2 nm |
Sistema Fotometrikoa | : | Habe bakarra, 1200L/mm-ko sareta planoa |
Zehaztasun Fotometrikoa | : | ±0,3τ (0~100τ) ± 0,002A (0~0,5A) ±0,004A (0,5~1A) |
Erreproduzigarritasun fotometrikoa | : | ≤0,15% τ |
Lan egiteko modua | : | T, A(-0,3-3A), C, E |
Sorta fotometrikoa | : | -0,3-3A |
Argi galdua | : | ≤0,05% τ (Nal, 220 nm, NaNO2 360 nm) |
Oinarrizko lautasuna | : | ±0,002A |
Egonkortasuna | : | ≤0.001A/30min (500nm-tan, berotu ondoren) |
Zarata | : | ±0.001A (500nm-tan, berotu ondoren) |
Bistaratzea | : | 6 hazbeteko altuera duen LCD urdin argia |
Detektagailua | : | Siliziozko argazki-diodoa |
Boterea | : | AC 220V/50Hz, 110V/60Hz 140W |
Neurriak | : | 530×410×210mm |
Pisua | : | 18kg |
Uhin-luzera sorta | : | 320-1100 nm |
Banda-zabalera espektrala | : | 2 nm (5 nm, 1 nm, aukerakoa) |
Uhin-luzeraren zehaztasuna | : | ± 0,5 nm |
Uhin-luzera Erreproduzigarritasuna | : | 0,2 nm |
Sistema Fotometrikoa | : | Habe bakarra, 1200L/mm-ko sareta planoa |
Zehaztasun Fotometrikoa | : | ±0,3τ (0~100τ) ± 0,002A (0~0,5A) ±0,004A (0,5~1A) |
Erreproduzigarritasun fotometrikoa | : | ≤0,15% τ |
Lan egiteko modua | : | T, A, C, E |
Sorta fotometrikoa | : | -0,3-3A |
Argi galdua | : | ≤0,05% τ (Nal, 220 nm, NaNO2 360 nm) |
Oinarrizko lautasuna | : | ±0,002A |
Egonkortasuna | : | ≤0.001A/30min (500nm-tan, berotu ondoren) |
Argi iturria | : | Tungsteno lanpara halogenoa |
Bistaratzea | : | 6 hazbeteko altuera duen LCD urdin argia |
Detektagailua | : | Siliziozko argazki-diodoa |
Boterea | : | AC 220V/50Hz, 110V/60Hz 140W |
Neurriak | : | 530×410×210mm |
Pisua | : | 18kg |